賽默飛電子顯微鏡
渾然一體的ChemiSEM技術(shù)：集成式掃描電鏡成像與 X 射線能譜解決方案
檢測(cè)樣品：金屬 陶瓷 電池
檢測(cè)項(xiàng)目：成分分析
方案概述：ChemiSEM技術(shù)結(jié)合了掃描電鏡 (SEM) 和與 X 射線能譜 (EDS)，可簡(jiǎn)化對(duì)金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟材料等多種材料的復(fù)雜分析。
更優(yōu)的用戶體驗(yàn)
ChemiSEM通過(guò)一個(gè)軟件系統(tǒng)同時(shí)進(jìn)行SEM和EDS分析，大大減少了新用戶學(xué)習(xí)時(shí)間，使得分析更加順暢，延長(zhǎng)了機(jī)器的有效機(jī)時(shí)，在同樣的時(shí)間里分析更多的樣品。
強(qiáng)大的分析性能
ChemiSEM技術(shù)可實(shí)時(shí)自動(dòng)處理原始信號(hào)，生成定量圖。對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行解卷積，避免出現(xiàn)和峰和重疊峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)中所有具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義的譜圖對(duì)每個(gè)相位進(jìn)行系統(tǒng)性的識(shí)別，而不依賴于對(duì)樣品的預(yù)先假設(shè)；不僅如此，ChemiSEM技術(shù)通過(guò)持續(xù)監(jiān)測(cè)樣本位置，可自動(dòng)校正樣本漂移。
可靠的數(shù)據(jù)質(zhì)量
ChemiSEM 技術(shù)提供了智能、全自動(dòng)化的自動(dòng) ID 優(yōu)化、數(shù)字峰值擬合和矩陣校正程序，使各類用戶都能獲得可靠的結(jié)果。隨著數(shù)據(jù)的累積，一系列統(tǒng)計(jì)驗(yàn)證程序?qū)⒊掷m(xù)自動(dòng)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行建模和優(yōu)化，讓用戶安心使用。
多樣的搭配機(jī)器
ChemiSEM技術(shù)將來(lái)可搭載 Thermo Scientific™ Axia™、Apreo™ 2 和 Quattro™ 掃描電鏡，滿足不同類型用戶的需求。
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